![[Hauptseite]](/upload/wiki.png)
Hauptseite
Patent:FR2125850
| Patent: | FR 2125850 |
| Titel: | Dispositif pour la mesure de la surface déchantillons plats et le marquage de la valeur mesurée sur les échantillons |
| Datum: | 04.09.1972 |
| Ort: | |
| Land: | Frankreich |
| Person: | |
| Firma: | Licentia Patent-Verwaltungs-GmbH; Alfred Klein |
| Links im Rechnerlexikon: | |
| Schlagworte: | |
| Link zum Patentamt: (ohne Garantie) |  FR2125850 |
(Dieser Artikel enthält momentan keinen Text)