Patent:PL55686

Patent:	PL 55686
Titel:	Wielozakresowy przymiar do odczytywania wartosci na tasmach pomiarowyc
Datum:	25.06.1968
Ort:	Warszawa
Land:	Polen
Person:	Szwaj, Stefan (P)
Firma:	Instytut Organizacji i Mechanizacji Budownictwa
Links im Rechnerlexikon:
Schlagworte:
Link zum Patentamt: (ohne Garantie)	PL55686

Rechnerlexikon