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Patent:DE172790
| Patent: | DE 172790 |
| Titel: | Flächenmeßmaschine für Leder u.dgl. ... |
| Datum: | 13.04.1905 |
| Ort: | Wien |
| Land: | Deutschland |
| Person: | Speigler, Fritz |
| Firma: | |
| Links im Rechnerlexikon: | |
| Schlagworte: | |
| Link zum Patentamt: (ohne Garantie) |  DE172790 |
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