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Patent:DE456277
| Patent: | DE 456277 |
| Titel: | Verfahren, verkleinerte Stabwerksnachbildungen zwecks Ermittelung ihrer statisch unbestimmten Groessen in die Form einer Einflusslinie zu bringen |
| Datum: | 28.02.1926 |
| Ort: | Darmstadt |
| Land: | Deutschland |
| Person: | |
| Firma: | Christian Rieckhof |
| Links im Rechnerlexikon: | |
| Schlagworte: | |
| Link zum Patentamt: (ohne Garantie) |  DE456277 |
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