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Patent:DE578425
| Patent: | DE 578425 |
| Titel: | Flächenmeßmaschine |
| Datum: | 12.10.1930 |
| Ort: | Rio de Janeiro |
| Land: | Deutschland |
| Person: | Kiefer, Gustav; Engmann, Gustav |
| Firma: | |
| Links im Rechnerlexikon: | |
| Schlagworte: | |
| Link zum Patentamt: (ohne Garantie) |  DE578425 |
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